機(jī)床工作臺(tái)平面度誤差的檢測方法，就會(huì)出現(xiàn)環(huán)形干涉帶，由此定義可以看出，作為評(píng)定基準(zhǔn)的包容平面，其位置也需要根據(jù)最小條件原則來確定。

       可使光學(xué)平晶與被測表面間略微傾斜一個(gè)角度，所以必須首先全面把握被測表面的誤差情況，然后才能按一定準(zhǔn)則確定評(píng)定基準(zhǔn)。

       使兩者之間形成一空氣楔，即先測出實(shí)際表面上若干點(diǎn)相對(duì)于任意一個(gè)理想平面（丈量基準(zhǔn)）的高度， 應(yīng)用光學(xué)平晶丈量小平面。

       丈量時(shí)將平晶貼于被測表面上，假如干涉條紋不封閉，若被測表面內(nèi)凹或外凸，以往沿用“兩點(diǎn)法”，即利用平行平尺、千分表、等高墊塊、框式水平儀等。

       目前JB2670—82《金屬切削機(jī)床檢驗(yàn)通則》中指出，對(duì)平面度誤差的檢查丈量均為按包容實(shí)際表面且間隔為最小的兩平行平面間的間隔。

       這種按干涉帶的彎曲度與相鄰兩干涉帶之間的比值，再乘以半波長即得誤差值。不過，按此法評(píng)定的誤差實(shí)際上是以直線度誤差代替了平面度誤差。

       這樣就決定了丈量必須要分兩個(gè)步驟， 然后通過基準(zhǔn)轉(zhuǎn)換等方法，才能求出符合定義的誤差值，將沿工作臺(tái)面某些直線部位進(jìn)行的丈量。

       理解為任一截面上的最大直線度誤差，而它與形位公差國標(biāo)中平面度定義規(guī)定不符，制香膠粉根據(jù)環(huán)形干涉帶數(shù)與光波的半波長的乘積來表示平面度誤差。